Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(Hipot Test)與局部放電(PartialDischarge,PD)偵測(cè)功能于一單機(jī)，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV,漏電流測(cè)量范圍0.01μA~300μA,局部放電偵測(cè)范圍1pC~2000pC,針對(duì)高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。