加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規(guī)范要求，3種控制模式包含：不飽和控制(乾濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺停機(jī)時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等...，完善的保護(hù)裝置，保障實驗室與操作人員安全。
全方位安全保護(hù)系統(tǒng)：
保護(hù)待測品的時序裝置&BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實驗規(guī)范要求，模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下，加載最大工作電壓，檢測內(nèi)部封裝模組材料接合與保護(hù)層的滲透，并且觀察是否造成遷移。
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