完整的生產(chǎn)測(cè)試，無需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條完全隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡化 FET 測(cè)試

特點(diǎn)

• 在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

• 最寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍

• 高度準(zhǔn)確的 100 μs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測(cè)試能力

嵌入式腳本提供無與倫比的生產(chǎn)吞吐量

滿足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條完全隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測(cè)試

特點(diǎn)

• 消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信

• 高級(jí)數(shù)據(jù)處理和流量控制

• 通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無主機(jī)

TSP-Link? 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量

特點(diǎn)

• 支持 <500 ns 通道間同步

• 可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道

• 隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置

適合生產(chǎn)的最佳低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點(diǎn)

• 在最低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍

• 具有市面上的最佳低電流分辨率

• 直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置

學(xué)習(xí)更多， 獲得更多。

源測(cè)量單元教程學(xué)習(xí)中心將關(guān)于 Keithley SMU 和其他產(chǎn)品的大量信息都放在一個(gè)方便的位置。 我們提供指向與我們所服務(wù)的應(yīng)用和行業(yè)相關(guān)的各種內(nèi)容的鏈接。

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