電動車、車用電子與感測器、5G、穿戴裝置、AI、云端儲存運算..等新技術發(fā)展帶動下，全球先進制程半導體的需求持續(xù)增加，半導體制程技術演進，也使得元件尺寸越做越小，元件也開始出現(xiàn)可靠度[翹曲、脫層、裂痕]與制程上的問題，對于半導體的可靠度測試、故障分析及壽命推估，的要求與嚴苛也有所提升，需要進行氣候環(huán)境模擬試驗[結露、呼吸、溫濕度組合、濕冷凍、溫度循環(huán)...等]，相關元件與組件的壽命時間拉長，需要縮短試驗時間，因此必須要進行加速壽命與強迫吸濕試驗[PCT、HAST、uHAST]，將相關半導體可靠度試驗會參考與引用的測試規(guī)范整理于此專區(qū)。

技術文章與規(guī)范

• JEDEC半導體可靠度測試與規(guī)范

• IEC-60068-2概論

• IEC-60068-2結露與溫濕度組合試驗

• 溫度循環(huán)與沖擊采待測品表溫控制

• AEC-Q100基于積體電路應力測試認證的失效機理

• AEC-Q200被動(無源)組件應力測試認證規(guī)范

• AEC-Q200試驗條件

相關試驗設備

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  可程式恒溫恒濕試驗機（標準型）

  恒溫恒濕機的目的是模擬產品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗...等)，檢測產品本身的適應能力與特性是否改變。 ※ 需符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序橫線野蠻整齊的一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。

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  高度加速壽命試驗機

  加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

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  冷熱沖擊機熱應力復合機

  慶聲改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(2 Zone)、高低溫+常溫沖擊(3 Zone)、應力篩選ESS，至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗，需耗費許多添購設備與占用空間的硬體成本， 一次解決您的需求，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定，慶聲秉持著符合國際規(guī)范的原則，結合貼心的創(chuàng)新功能與技術，期待您詳細了解。

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  VMR-S多功能高速導通電阻量測分析系統(tǒng)

  「多功能高速導通電阻量測分析系統(tǒng)」能夠在定點溫度、高溫高濕、高低溫冷熱沖擊、高低溫快速溫度循環(huán)、高度加速壽命試驗，各種可靠度環(huán)境試驗下，高速量測、紀錄、數(shù)據(jù)分析各種材料與銲點，如：FPC、PCBA、電阻、電感、 電容、BGA&CSP銲點、先進封裝(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP...等)的接合度可靠性，協(xié)助客戶快速有效分析產品接合點可靠度評估。

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